随着航天技术的不断发展，泄漏问题已成为航天产品设计制造中必须考虑的关键因素。越来越多的人关注它。相关电子元器件的漏电率检测引起了研究人员的高度关注。目前，漏电检测技术主要应用于密封继电器和集成电路外壳。
氦质谱检漏仪可方便地测量密封继电器的泄漏率。针对不同的产品采用合适的检漏方法。
目前军用密封继电器的漏电率检测主要依据GJB360A-96的112测试程序。实验规程中明确规定了密封继电器检漏的条件和步骤。本次主要讨论背压检漏属于精细检漏步骤。
继电器的背压检漏法一般分为三个步骤： 1、加氦气压力：将被测继电器放入充氦气的压力罐中； 2 净化：将继电器从压力罐中取出，用氮气或气流吹除吸附在继电器表面的氦气。 3 漏电检测：将继电器放入漏电检测仪的漏电检测盒内进行检测。如果继电器有泄漏，压入内腔的氦气会通过泄漏孔进入检漏仪，仪表上会显示泄漏率。
GJB360A-96中明确规定，选择的加压压力、加压时间和最大停留时间应使被测样品的规定泄漏率大于检漏仪的最小可检测泄漏率。当泄漏量过大时，氦气加压时压入的氦气会在检漏前被抽空，因此无法将氦气吸出。氟油法可用于粗略检漏，检查是否存在大泄漏。
